Thứ sáu, 03/05/2024 | 10:00 - GMT+7
Ngày 1/11/2017 tại Hà Nội đã chính thức diễn ra lễ khai mạc Triển lãm quốc tế ngành công nghiệp dệt may, thiết bị và nguyên phụ liệu 2017.
06/11/2017 - 14:31Ngày 1/11/2017 tại Hà Nội đã chính thức diễn ra lễ khai mạc Triển lãm quốc tế ngành công nghiệp dệt may, thiết bị và nguyên phụ liệu 2017. Triển lãm diễn ra đến hết ngày 3/11/2017.
Phát biểu khai mạc Thứ trưởng Bộ Công Thương Cao Quốc Hưng cho biết, là một trong những triển lãm quốc tế uy tín tại Việt Nam và khu vực, HANOI TEX là cơ hội giúp các doanh nghiệp dệt may Việt Nam tìm hiểu, lựa chọn thiết bị có công nghệ hiện đại được sản xuất từ các nước công nghiệp tiên tiến. Cũng từ triển lãm này, doanh nghiệp dệt may sẽ có định hướng đầu tư thêm công nghệ mới nhằm tăng dần tỷ lệ nội địa hóa và có thêm nguồn nguyên phụ liệu; chủ động đáp ứng nhu cầu của khách hàng nước ngoài, nâng cao giá trị gia tăng sản phẩm. Điều đó góp phần vào phát triển ngành dệt may Việt Nam bền vững, hội nhập hiệu quả hơn với khu vực và quốc tế- Thứ trưởng Cao Quốc Hưng khẳng định.
Với tổng diện tích trưng bày trên 6.000 m2, HANOI TEX 2017 là hoạt động xúc tiến thương mại thu hút sự quan tâm lớn của các doanh nghiệp, tập đoàn lớn trên thế giới, với hơn 150 công ty đến từ 15 quốc gia và lãnh thổ trên thế giới như: Nhật Bản, Hàn Quốc, Vương Quốc Anh, Mỹ, Đức, Trung Quốc, Ấn Độ, Indonesia, Italy, Malaysia, Pakistan, Singapore, Thổ Nhĩ Kỳ, Việt Nam …
Được tổ chức hàng năm nhằm giới thiệu về các loại thiết bị sợi, dệt, nhuộm; dây chuyền may thêu tự động, máy đo và cắt vải tự động; phần mềm thiết kế, nguyên phụ liệu, vải, sợi… của các công ty hàng đầu trên thế giới trong lĩnh vực thiết bị và nguyên phụ liệu dệt may, HANOI TEX giúp các doanh nghiệp dệt may có cơ hội tiếp cận các công nghệ sản xuất hiện đại nhất để định hướng đầu tư, nhằm tăng dần tỷ lệ nội địa hoá.
Nhật Minh
Các nhà hoạch định chính sách và chuyên gia công nghệ đến từ 15 quốc gia, vùng lãnh thổ khu vực châu Á-Thái Bình Dương cùng thảo luận các vấn đề về phát triển trí tuệ nhân tạo tại AI Connect II.
